# SIMULATION fAIL AutoTest_Designer2_Duke_Test2  AutoTest_Designer2_Duke_Test6_RPMBPreRead  AutoTest_Designer2_Jeanie_Test12_VU_4067  AutoTest_Designer2_Jeanie_Test3_status_report  AutoTest_Designer2_Jeanie_Test4_erase_fail  AutoTest_Designer2_Jeanie_Test7_status_report_forMicron  AutoTest_Designer3_Kenji_Test2_Partition_Test server單打不ok .\Release\SM2736_SIM_GCG-F_1CE.exe "FTL_Simulator_Test_Script.log" 1 0 0 0 > output.txt W0525  ECSD debugtool wpro  sendecsd  sendecsd跟Debug tool read wpro不一樣 是因為268 269是runtime算出來ㄉ(走`BYTE ISP_eMMC_CMD08(LWORD u32Argu)`) nand裡面不會存 然後客戶的easytool有走init flow所以會有268 269(還有其他有ㄉ沒ㄉ)的值 oem_healthreport  CMD healthreport  AVG是用good去除  simulation V8   SIM_ECnt_Rec(ECNT_TAB4) g32a_ECnt_Rec SIM_PowerCycle gst_Sim_Stat.u32PORCnt gp16a_Table5[u16_i_XBlock]  為什麼cycle增加 T5沒增加 可能1 重新set partition了 可能2 打得位置本來就再EUDA,看UDA的PE會不準。 現在要確定cycle增加 T5會增加 然後把打script的量加大,確定PE1有到極限,再去算Index write cnt才會更準。 3 cycle  1 cycle  3 cycle + 不改flag  1 cycle + 不改flag  切Partition應該是會reset T5沒錯。 20 cycle  AutoTest_Designer2_Jeanie_Test12_VU_4067 1 cycle  確定real跟runtime有沒有一致 有 AutoTest_Designer2_Jeanie_Test12_VU_4067 2 cycle  AutoTest_Designer2_Jeanie_Test12_VU_4067 2 cycle 不改flag  WR 2cycle  WR 4cycle  WR 6cycle  WR 8cycle  4K WR 1cycle  4K WR 2cycle  4K WR 4cycle     舊sample做SBT R8F endurance實驗 0x71~0x80 PE33450 W0711 10:50   新SAMPLE做Vdet boot實驗 PE 21k 三天後 四天後差不多  大部分是整頁OK 少部分一頁high ECC,最高到2A 2A的VT圖  正常的VT圖  實驗五舊Sample做SBT 21K wearout後VT圖  實驗五舊Sample做SBT 21K wearout後 reprogram測試。 當下最高error bit 0x12。  當下VT  Check list KSI load code走這裡 `private void btn_KSI_LoadCode_Click(object sender, EventArgs e)` LoadCode_Sub>LoadVendorCMD>Get_VCMD_path 比對IC比對nand找到codebase  如果filename是"NULL",就自己開.bin檔  如果不是"NULL",就自動開  btn_KSI_WB_Info_Click>Get_WB_Info> Normal init Force init差別 btn_KSI_WriteCnt_Click   T4裡面u08DynamicMode [CPU/NF speed]:     [Idle duration for AutoBKOPS] : 200 (ms)  [Idle duration to enter APS] : 2 (ms)  [Duration of LV1 to enter LV2] : 20 (ms)  [PSA Mode Flag]: 1   [SLC/MLC Endurance]: SLC: 0x7530 MLC: 0xBB8   GET TABLE9  R8F測試 新sample v-8836 21K 12hrs 最高error bits 0x14    36hrs 最高error bits 0x18  R8F測試 舊sample v-12590 21K 12hrs 最高error bits 0x18 60hrs 最高error bits    18939  18796  18822  18836  18773  18971  18847  ## Case V6 FULL EUDA 沒有align size,導致剩餘的UDA會變成dynamic mode 由於spare很少所以一直進urgent V6 FULL EUDA 沒有align size,導致剩餘的UDA會變成dynamic mode 由於spare很少所以一直進urgent  修改好FW以後切全EUDA 切全EUDA的command ti_percpartition ff 0 0 0 0 1  ## D30Q GC TH 最舊版  最新版  Andy 改之後 ## D8QA VCMD refresh紀錄 打了一下wfcard 存T1 下CMD  下GC的CMD後的T1 有整個block 搬家  Table 1的Code 
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