# Type Tests
- Type Test 由測試機構對一個或多個代表性單元進行監督或測試，可以在工廠、測試實驗室或現場設備上進行。
- 按照 DER 的電壓和電流額定值成比例縮放
- 要求EUT在不同的電力離散級別下運行（例如，額定功率的 33%、66% 和 100%）

## Test Lists
|Clause|Test Name|Discussion|
|---|---|---|
|5.3|[Temperature Stability Test](#5.3-Temperature-Stability-Test)||
|5.4.2|[Test for overvoltage trip](#5.4.2-Test-for-overvoltage-trip)||
|5.4.3|[Test for undervoltage trip](#5.4.3-Test-for-undervoltage-trip)||
|5.4.4|[Low-voltage ride-through tests - Category I](#5.4.4-Category-I-Low-voltage-Ride-through-tests)||
|5.4.5|~~Test for voltage disturbances within continuous operating region~~|X|
|5.4.6|~~Test for dynamic voltage support~~|X|
|5.4.7|[High-voltage ride-through tests](#5.4.7-High-voltage-ride-through-tests)|(MI 是否 Capable?)|
|5.4.7.4|[Consecutive ride-through test](#5.4.7.4-Consecutive-ride-through-test)|(MI 是否 Capable?)|
|5.5.1|[Test for over-frequency trip](#5.5.1-Test-for-over-frequency-trip)||
|5.5.2|[Test for under-frequency trip](#5.5.2-Test-for-under-frequency-trip)||
|5.5.3|[Test for low-frequency ride-through](#5.5.3-Test-for-low-frequency-ride-through)|CSI, use variable frequency|
|5.5.4|[Test for high-frequency ride-through](#5.5.4-Test-for-high-frequency-ride-through)|CSI, use variable frequency|
|5.5.5|[Test for rate of change of frequency (ROCOF)](#5.5.5-Test-for-rate-of-change-of-frequency-ROCOF)|5.5.3 和 5.5.4 結果|
|5.5.6|~~Test for voltage phase angle change ride through~~|X|
|5.6|[Enter Service](#5.6-Test-for-Enter-Service)||
|5.7|[Synchronization](#-5.7-Test-for-Synchronization)||
|5.8.1|[Protection from electromagnetic interference (EMI) Test](#5.8.1-Protection-from-electromagnetic-interference-EMI-test)||
|5.8.2|[Surge withstand performance test](#5.8.2-Surge-withstand-performance-test)||
|5.8.3|~~Paralleling device tests~~|X|
|5.9|~~Limitation of dc injection for inverters~~|X|
|5.14.3|[Test for Constant Power Factor (p.f.) mode](#5.14.3-Test-for-Constant-Power-Factor-p.f.-mode)||
|5.14.4|[Test for Voltage-Reactive Power (volt-var) mode](#5.14.4-Test-for-Voltage-Reactive-Power-volt.var-mode)||
|5.14.5|[Test for Voltage-Reactive Power (volt-var) mode (VRef test)](#5.14.5-Test-for-Voltage-Reactive-Power-volt.var-mode-vref-test)||
|5.14.6|[Test for Voltage-Reactive Power (volt-var) mode with an imbalanced grid](#5.14.6-Test-for-Voltage-Reactive-Power-volt.var-mode-with-an-imbalanced-grid)||
|5.14.7|[Test for Active power-Reactive Power Mode (watt-var)](#5.14.7-Test-for-Active-Power-Reactive-Power-var-watt.ar)||
|5.14.8|[Test for Constant Reactive Power (var) mode](#5.14.8-Test-for-Constant-Reactive-Power-var-mode)||
|5.14.9|[Test for Voltage-Active power (volt-watt) mode](#5.14.9-Test-for-Voltage-Active-Power-volt.watt-mode)||
|5.14.10|[Test for Voltage-Active power (volt-watt) mode with an imbalanced grid](#5.14.10-Test-for-Voltage-Active-Power-volt.watt-mode-with-an-imbalanced-grid)||
|5.15.2|[Test for frequency-droop (frequency-power or frequency-watt) capability—above nominal frequency](#5.15.2-Test-for-Frequency-Droop-frequency.power-or-frequency.watt-capability-above-nominal-frequency)||
|5.15.3|[Test for frequency-droop (frequency-power or frequency-watt) capability—below nominal frequency](#5.15.3-Test-for-Frequency-Droop-frequency.power-or-frequency.watt-capability-below-nominal-frequency)||
|5.17.1|[Ground Fault Overvoltage Test (GFOV)](#5.17.1-Ground-Fault-Overvoltage-Test-GFOV)||
|5.17.2|[Load Rejection Overvoltage Test (LROV)](#5.17.2-Load-Rejection-Overvoltage-Test-LROV)||
|5.18.1|[Fault Current Tests for Inverter](#5.18.1-Fault-Current-Tests-for-Inverter)||
|5.19|[Persistence of DER parameter settings](#5.19-Persistence-of-DER-parameter-settings)||

---
# Interoperability Test
- 符合互通性要求所需的通用測試程序。
- 需要驗證DER是否在IEEE Std 1547-2018 中識別的通信時間內對每個請求進行回覆。

## Test Lists
|Clause|Test Name|Discussion|Note|
|---|---|---|---|
|6.4|Nameplate data test||by m0|
|6.5|Configuration Information test||
|6.6|Monitoring Information test||
|6.7|Management Information test||
|6.8.1.1|Sunspec Nameplate data test||
|6.8.1.2|Sunspec Configuration information test||
|6.8.1.3|Sunspec Monitoring information test||
|6.8.1.4|Sunspec Adjustable constant power factor test||
|6.8.1.5|Sunspec Voltage-reactive power function test||
|6.8.1.6|Sunspec Active power-reactive power test||
|6.8.1.7|Sunspec Frequency trip test||用 Sunspec parameter測試。同5.5.1/5.5.2|
|6.8.1.8|Sunspec Frequency droop (frequency-active power or frequency-watt) test|||
|6.8.1.9|Sunspec Enter Service Test|||
|6.8.1.10|Sunspec Limit maximum active power test|||

---
### 5.3 Temperature Stability Test
- 讓設備在指定的溫度環境中穩定。當連續三次測得的溫度讀數（每隔30分鐘測量一次）達到或超過高溫測試的最高溫度，或者達到或低於低溫測試的最低溫度時，即可達到穩定溫度。
- 對於最低操作溫度點，設備應保持脫電狀態，直到測試室內達到穩定溫度。
- 在EUT的指定操作溫度範圍內，跳脫（trip）和投入服務（Enter Service）功能應正常運作，符合製造商的規定。

#### 測試步驟
**a)** 根據EUT的規格選擇測試溫度。EUT應在最低和最高操作溫度下進行測試。
**b)** 需要在溫度範圍內驗證的測量參數包括電壓、有功功率、無功功率和頻率。此外，在高溫範圍的上限進行清除時間測試，在操作溫度範圍的下限進行投入服務測試以驗證時間的測量準確性是否符合要求。
**c)** 執行測試並記錄數據。
**d)** 在步驟**a)** 中選擇的每個溫度點上，對步驟**b)** 中選擇的每個測試重複執行五次。

---
### 5.4.2 Test for overvoltage trip
- 驗證EUT在遇到過壓條件時停止為區域EPS供電並在IEEE Std 1547指定的清除時間內觸發。
- 確定了每個過壓跳脫功能的電壓幅值和清除時間。
- EUT 在 IEEE Std 1547 指定的每個過壓跳脫範圍內停止給交流測試源供電並在相應的清除時間內觸發，則該EUT將被認為符合要求。

#### 測試步驟
**a)** 根據製造商提供的說明和規格連接EUT。
**b)** 將所有源參數設置為EUT的名義操作條件。
**c)** 將（或驗證）所有EUT參數設置為名義操作設置。如果過壓設置是可調節的，則將EUT設置為最小的過壓設置，但不得小於名義電壓加上電壓的最小要求精度的兩倍。
**d)** 將跳脫時間設置為最小值。
**e)** 記錄適用的設置。
**f)** 當裝置跳脫時，記錄所有電壓幅值。
**g)** 對於單相裝置，重複步驟**e)** 到**f)** 共四次，進行五次測試。
**h)** ~~對於多相裝置，對於每個相位或相位對個別以及所有相位同時，重複步驟**e)** 到**g)** 。~~
**i)** 如果跳脫幅值是可調節的，則在範圍的最大值上重複步驟**e)** 到**g)**。
**j)** 設置跳脫時間設置為最大值，並重複步驟**e)** 到**i)** 。
**k)** 對於每個過壓操作跳脫區域，重複步驟**c)** 到**j)** 。

> 對於單相裝置，將適用的電壓調整為附錄A中定義的起始點**Pb**的值，該值大於或等於在步驟**c)** 中確定的設置點值減去200％的**MRA**。在這個電壓下，源應保持持續時間。
在這個時間結束時，使用附錄 **A.3** 中指定的程序將電壓進行一步，使其小於或等於設置點值加上 200％ 的**MRA**。對於多相裝置，只需調整一個相位的電壓，其他相位保持在名義值±0.02 p.u。

---
### 5.4.3 Test for undervoltage trip
- 驗證**EUT**在低壓條件下停止向區域**EPS**供電並在IEEE Std 1547-2018中指定的清除時間內跳脫。
- EUT在IEEE Std 1547指定的每個欠壓跳脫範圍內停止為電，並在相應的消除時間內跳脫，則該**EUT**將被認為符合要求。

#### 測試步驟
**a)** 按照製造商提供的說明和規格連接EUT。
**b)** 將所有源參數設置為EUT的名義運行條件。
**c)** 將所有EUT參數設置為名義運行設置，如果欠壓設置是可調的，則將EUT設置為最大欠壓設置，但不得大於名義電壓減去兩倍的最小電壓精度要求。
**d)** 將跳脫時間設置為最小值。
**e)** 記錄相關設置。
**f)** 當裝置跳脫時，記錄所有電壓幅值。
**g)** 將步驟 **e)** 至 **f)** 重複進行四次，共進行五次測試。
**h)** ~~對於多相裝置，對每個相位或相對進行步驟 **d)** 至 **g)**，並對所有相位進行步驟~~
**i)** 如果跳脫幅值是可調的，則在範圍的最小值處重複步驟 **e)** 至 **h)**。
**j)** 將跳脫時間設置為最大值，並重複步驟 **e)** 至 **i)**。
**k)** 對於每個欠壓操作跳脫範圍，重複步驟 **c)** 至 **j)**。

---
### 5.4.4 Category I Low voltage Ride through tests
- 低電壓過渡測試（LVRT測試）的目的是驗證設備在電壓下降的情況下，能否繼續運行而不觸發跳閘，以符合 IEEE Std 1547-2018 第 6.4.2 條的要求。
- 在LVRT測試期間，應禁用或設置大小和持續時間的欠壓跳脫功能，以免影響測試結果。
- EUT 的頻率-有功功率控制模式應設置為默認設置。
- 在 LVRT 測試中，應使用 5.4.4.3 的測試來評估EUT在異常條件下的運行模式（瞬時停止，停止供電，強制運行或許可運行）。




---

### Test for voltage disturbances within continuous operating region

- ~~驗證**多相**分散式能源資源（DERs）~~ 在可適用電壓處於IEEE Std 1547所定義的持續運作範圍內的電壓干擾期間，仍按照IEEE Std 1547-2018的6.4.2.2節所規定的方式運作。

---

### Test for dynamic voltage support
> No requirements for this function are defined in IEEE Std 1547.

---
### 5.4.7 High voltage ride through tests
- 驗證EUT在不觸發的情況下，能夠在符合IEEE Std 1547-2018的6.4.2要求下穩定度過電壓波動。
- 在**HVRT**測試期間，過壓跳脫功能的幅度和持續時間設置應禁用或設置為不影響測試結果。
- EUT的頻率-有功功率控制模式應設置為默認設置。
- 電壓-有功功率控制模式，該模式應禁用。

#### 測試方式
1. 使用電阻負載測試
- EUT 在 **Active Power** 額定值的 90％ 或更高的任何有功功率水平下運行。
- 將 EUT 輸出電壓調整到提供大於或等於 1.20 倍的有效值電壓
- 在 Category I 和 II 下維持這個電壓水平不少於2秒
- 在以不少於 1.2 倍的有效值電壓運行後，EUT應在有效值電壓不少於1.1倍的情況下繼續運行，總持續時間不少於 600 秒。

2. 使用 Programmable AC SOURCE 測試
- EUT的電壓-無功功率控制模式 (Voltage-Reactive Power Control Mode)應設置為IEEE Std 1547-2018中 表8 所指定的適用性能類別的默認設置(Default Settings)，並啟用
- 對於已通過5.4.7.2中的 使用電阻負載測試 證明符合**HVRT**要求的EUT，可以使用本條款中的信號注入方法來驗證控制系統的正確運行。
- 製造商應確定控制系統輸入端口的位置



---
### 5.4.7.4 Consecutive ride through test
- 高壓耐受性測試序列應根據IEEE Std 1547-2018的6.4.2.5要求進行不間斷重複。

#### 測試條件
- 符合條件以下兩者其一:
1. 當每個序列的最後一個測試條件在1.10 ± 0.02 p.u.進行時，測試結果可以用來證明符合IEEE Std 1547-2018中5.1節的高壓連續運行要求。

2. 最後一個測試條件可以在1.00 p.u.至1.10 p.u.之間進行，並且還應單獨進行一個測試，使EUT在1.10 ± 0.02 p.u.下運行不少於120秒，以證明符合IEEE Std 1547-2018中5.1節的高壓連續運行要求。


---
### 5.5.1 Test for over frequency trip
- 驗證分散式能源資源（DER）單元或系統在超頻條件下停止對區域EPS供電
- EUT停止為交流測試源供電。
- 在 IEEE Std 1547 所指定的每個超頻跳脫範圍的相應清除時間內跳脫，則該EUT將被視為符合要求。
- 本程序使用附件A 的附錄 A.4 中定義的 Rate limited step function。在此測試中，參數 "P" 表示頻率。

---
### 5.5.1.2 Test for over-frequency trip Procedure
**a)** 根據製造商提供的指示和規格連接EUT。
**b)** 將所有交流測試源或信號注入發生器的參數設置為 EUT 的 Nominal 條件。
**c)** 關閉或設置 EUT 的所有其他主動和無功功率控制功能，以不影響正在評估的運行區域的測試結果。將**頻率斜率功能設置為最寬**的死區設置，並將**最大斜率設置為最大**，以使有功功率相對於頻率的變化盡可能小。
**d)** 將EUT參數設置（或驗證）為製造商指定的調整範圍內的**最小超頻跳脫幅值**設置。
**e)** 將EUT參數設置（或驗證）為製造商指定的調整範圍內的**最小超頻跳脫持續時間**設置。
**f)** 記錄交流電源源或信號注入發生器的適用設置和EUT的設置。
**g)** 將交流測試源的頻率從 $P_N$ 調整到 $P_B$。交流測試源應在此頻率下保持$t_h$ 時間。
**h)** 在此時間結束時，將頻率增加到$P_U$，並保持不少於清除時間設置的1.5倍時間。
**i)** 記錄單元跳脫的頻率和清除時間。
**j)** 重複步驟**d)** 到**i)**，共進行五次測試。
**k)** 將EUT參數設置為製造商指定的調整範圍內的超頻跳脫幅值設置的最大值，然後重複步驟**e)** 到**j)** 。
**l)** 將EUT參數設置（或驗證）為製造商指定的調整範圍內的最大超頻跳脫持續時間設置，然後重複步驟**f)** 到**k)** 。
**m)** 對於每個超頻運行區域，重複步驟**c)** 到**l)**。

---
### 5.5.2 Test for under frequency trip
- 驗證分散式能源資源（DER）單元或系統在低頻條件下停止對區域EPS供電，並在IEEE Std 1547所指定的清除時間內跳脫。
- 本程序使用附件A中定義的速率限制階躍函數，該參數"P"在此測試中代表頻率。


#### 測試流程

**a)** 根據製造商提供的指示和規格連接EUT。
**b)** 將所有可程式化的交流電源源或信號注入發生器參數設置為EUT的名義運行條件。
**c)** 關閉或設置EUT的所有其他主動和無功功率控制功能，以不影響正在評估的運行區域的測試結果。將頻率斜率功能設置為最寬的死區設置，並將最大斜率設置為最大，以使有功功率相對於頻率的變化盡可能小。
**d)** 將EUT參數設置（或驗證）為製造商指定的調整範圍內的最小低頻跳脫幅值設置。
**e)** 將EUT參數設置（或驗證）為製造商指定的調整範圍內的最小低頻跳脫持續時間設置。
**f)** 記錄交流測試源或信號注入發生器的適用設置和EUT的設置。
**g)** 調整源頻率從$P_N$ 到$P_B$。源應在此頻率下保持 $t_h$ 時間。
**h)** 在此時間結束時，將頻率降低到 $P_U$，並保持不少於清除時間設置的1.5倍時間。
**i)** 記錄單元跳脫的頻率和清除時間。
**j)** 重複步驟**d)** 到**h)** ，共進行五次測試。
**k)** 將EUT參數設置為製造商指定的調整範圍內的低頻跳脫幅值設置的最大值，然後重複步驟**e)** 到**j)** 。
**l)** 將EUT參數設置（或驗證）為製造商指定的調整範圍內的最大低頻跳脫持續時間設置，然後重複步驟**e)** 到**k)** 。
**m)** 對於每個低頻運行區域，重複步驟**c)** 到**l)**。

---
### 5.5.3 Test for low frequency ride through
- 驗證系統對於低頻偏移的行為，這些偏移超出了區域EPS的正常運行範圍。
- 本程序使用附件A中定義的速率限制階躍函數，該參數"P"在此測試中代表頻率。


---

### 5.5.3.4 DER capable of variable frequency operation while isolated from external sources 測試流程

能夠從外部源隔離運行的 DER 可以使用以下測試程序：
**a)** 根據製造商的指示將EUT連接到負載。
**b)** 設置或驗證使用默認設置對EUT進行編程。
**c)** 設置頻率斜率功能和斜率值，使有功功率相對於頻率的變化盡可能小。
**d)** 設置或驗證所有頻率跳脫設置，使其不影響測試結果。
**e)** 使EUT在名義頻率 ± 0.6 Hz下運行，輸出到能夠吸收EUT功率額定值的100%至125%的負載。
**f)** 在大於或等於EUT額定功率的功率水平下，以任何方便的功率因數操作EUT。記錄EUT在名義頻率條件下的輸出電流。
**g)** 將EUT的頻率從$P_N$ 調整到 $P_U$，其中 $P_U$ 小於或等於 57 Hz。EUT應在此頻率下保持$t_h$ 時間，該時間不應少於 299 秒。

> 備註：步驟 **f)** 和 **g)** 中使用的ROCOF可能用於展示EUT的ROCOF通過能力。

**h)** 將EUT的頻率增加到名義頻率± 0.6 Hz。
**i)** 對步驟**f)** 和**g)** 進行三次測試。
**j)** 在步驟**f)** 到**h)** 中的所有頻率轉變期間，絕對ROCOF應大於或等於IEEE Std 1547-2018中表21的ROCOF限制，並且應在EUT的示範ROCOF能力內。


---
### 5.5.4 Test for high frequency ride through
- 驗證系統對於超出區域EPS正常運行範圍的高頻偏移的響應行為。
- 此測試驗證EUT在 high-frequency 的通過區域範圍
- 分成以下兩種 EUT 測試:
- 能夠獨立運行的分散式能源資源（DER）
- 無法獨立運行的 (DER), 需搭配一個可變頻率源做測試
- 此程序使用由可變頻率源組成的交流測試源。
- 此程序使用附錄A的A.4中定義的速率限制階躍函數。該測試中，參數 P 被視為頻率。

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---

### 5.5.4.4 DER capable of variable frequency operation while isolated from external sources
能夠獨立運行的分散式能源資源（DER）可以使用以下程序：
**a)** 根據製造商的指示將**EUT**連接到負載。
**b)** 設置或驗證使用默認設置對**EUT**進行編程。
**c)** 設置頻率斜率功能和斜率值，使**有功功率相對於頻率的變化盡可能小**。
**d)** 設置或驗證所有頻率跳脫設置，使其不影響測試結果。
**e)** 在能夠吸收**EUT**功率額定值的100%至125%的負載銀行中，將EUT的頻率調整到名義頻率 ± 0.6 Hz 35。
**f)** 在 90% 至 100% 的EUT額定值之間的任何功率水平上運行EUT，並以任何功率因數運行。記錄EUT在名義頻率條件下的輸出電流。
**g)** 將**EUT**的頻率從$P_N$ 調整到 $P_U$，其中 $P_U$ 大於或等於 61.8 Hz。**EUT**應在此頻率下保持 $t_h$ 時間，該時間不得少於 299 秒。

> 備註：步驟**f）**和**g）**中使用的**ROCOF**可能用於展示**EUT**的**ROCOF**通過能力。

**h)** 將**EUT**的頻率降低到名義頻率 ± 0.6 Hz。
**i)** 對步驟**f)** 和**g)** 進行三次測試。
**j)** 在步驟**f)** 到**h)** 中的所有頻率轉變期間，**ROCOF**應大於或等於**IEEE Std 1547-2018**中 表21 的**ROCOF**限制，並且應在**EUT**的示範**ROCOF**能力內。


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---

### 5.5.5 Test for rate of change of frequency ROCOF
根據IEEE Std 1547-2018的6.5.2.5條所要求的最低**ROCOF**能力，通過分析5.5.3和5.5.4中一個或多個頻率過渡測試的結果來驗證遵循性。在用於遵循性驗證的頻率過渡測試中使用的絕對**ROCOF**應等於或高於IEEE Std 1547-2018的6.5.2.5條中為**EUT**的異常運行性能類別指定的**ROCOF**限制。

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### 5.6 Test for Enter Service
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### 5.6.1 Purpose
本子條款中的測試確認了與以下進入服務要求（括號中的子條款編號參考IEEE Std 1547-2018）的一致性：

1. 禁用許可服務的能力（4.6.1）
2. 分散式能源資源（DER）響應的優先級（4.7a）
3. 進入服務標準（4.10.2）
4. 進入服務期間的性能（4.10.3）

此測試還確認，關閉許可服務設置在電源循環後仍然持續禁用。

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### 5.6.2 Procedure
以下所述的測試程序應針對表11中的每個測試案例進行重複。


- 奇數號測試案例驗證 Enter Service（ES）期間（斜坡）的正確應用。
- 偶數號測試案例驗證 Enter Service（ES）隨機延遲的正確應用。如果實施了隨機延遲時間，則應對測試案例4進行足夠次數的重複，至少需要進行十次測試，以使所有試驗的平均延遲時間在400秒到600秒之間，並且延遲時間的標準偏差大於250秒。
- 例外1：對於不實施ES期間（斜坡）的EUT，測試案例1、3和5應分別使用測試案例 2、4 和 6 中的ES隨機延遲參數。
- 例外2：對於不實施隨機延遲的EUT，測試案例 2、4 和 6 應分別使用測試案例 1、3 和 5 中的ES期間（斜坡）參數。
- 表11中的 “Enter Service 標準設定” 列包含按照 IEEE Std 1547-2018 中的 表4 指定的各種進服務標準的設定。
- 表11中的初始電壓和頻率值被設計成其中之一在 2×MRA (Minimum Required Accuracy) 的 ES 標準範圍之外。
- 在測試過程中，該值會移動到最終的電壓或頻率值，該值在 2×MRA (Minimum Required Accuracy) 的 ES 標準範圍之內。
- 此測試中，允許使用信號注入測試方法，但使用這些方法不得消除EUT在測試期間產生有功功率的要求。

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### 5.6.2 Enter Service 測試流程
**a)** 根據製造商提供的說明和規格連接EUT。
**b)** 禁用許可服務設置。開始記錄EUT有功功率、交流電壓和頻率。
**c)** 在EUT端子處建立製造商指定的名義運行條件。提供足夠的輸入功率使EUT達到額定有功功率。
**d)** 應用測試案例下的表11中指定的DER進服務標準設置、ES延遲和ES期間或隨機延遲。
**e)** 通過等待不少於以下兩者中的較大者確認EUT不開始輸出功率：
1. 60秒，或
2. 2 ×（ES延遲時間）加上ES隨機延遲設置（如果已啟用）。
**f)** 將交流測試源設置為表11中指定的初始電壓和頻率。
**g)** 啟用許可服務設置。
**h)** 通過等待不少於以下兩者中的較大者確認EUT不開始輸出功率：
1. 60秒，或
2. 2 ×（ES延遲時間）加上ES隨機延遲設置（如果已啟用）。
**i)** 將交流測試源設置為表11中指定的最終電壓和頻率，持續時間等於ES延遲的25%。然後將交流測試源返回到表11中指定的初始電壓和頻率，持續時間為0.05秒到0.1秒，以允許ES延遲計時器重新啟動。對於ES延遲設置為零的測試案例，可以省略此步驟。
**j)** 將交流測試源設置為表11中指定的最終電壓和頻率。等待直到EUT的有功功率穩定在其額定值。
**k)** 禁用許可服務設置。等待直到EUT停止對交流測試源供電。
**l)** 啟用許可服務設置。等待5秒。對於ES延遲設置為零的測試案例，可以省略此步驟。

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### 5.6.3 Requirements
在頻率轉換時，頻率的變化速率（ROCOF）不應超過 IEEE Std 1547-2018 中適用的操作性能類別的表21中所要求的ROCOF過渡要求。


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### 5.6.4 Criteria

- 在 5.6.2 的步驟**b)** 到**i)** 中，EUT不得向交流測試源輸出有功功率或啟動同步。
- 在步驟**i)** 中，EUT不得在至少98.5%的ES延遲時間過去之前開始向交流測試源輸出有功功率，這是從上一次在ES標準範圍之外的偏移後，當交流測試源的電壓和頻率返回到ES標準範圍內的時間點開始計算的。
- 這同樣確認了在步驟**i)** 中偏離ES標準範圍的偏移後，EUT的延遲計數器已重新啟動。
- 在步驟**i)** 中，測量的EUT有功功率應符合**IEEE Std 1547-2018中4.10.3 c)**的所有要求，包括平均有功功率變化率和最大有功功率變化的要求。
- 對於使用ES隨機延遲的測試案例，有功功率應符合**IEEE Std 1547-2018中的4.10.3 c) Exception 1**。
- 對於使用ES週期（斜坡）的測試案例，在交流測試源的電壓和頻率返回到該測試案例的ES標準範圍內之後，EUT不應在等於98.5%的ES故意延遲時間和ES週期總和的時間內達到其額定有功功率。
- 在步驟**k)** 中，EUT應在IEEE Std 1547-2018中指定的時間內停止向交流測試源輸出能量（即，有功功率降至零）。
- 在步驟**l)** 中，在指定的5秒等待時間內，EUT不得向交流測試源輸出有功功率或啟動同步。

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### 5.7 Test for Synchronization
> 測試的目的是證明分散式能源資源（EUT）將根據IEEE Std 1547-2018的表5中指定的公差與區域EPS同步。


> 此測試僅適用於能夠獨立產生基頻電壓而不依賴區域EPS的DER。

提供了三種測試的 variation。

1. ~~第一種 variation（5.7.2）假設使用了模擬發電機源，例如可以在具有同步控制功能的離散式繼電器或多功能控制器上執行。~~
2. ~~第二種 variation（5.7.3）假設使用了實際的發電機源。~~
3. 第三種 variation（5.7.4）適用於無法關閉同步功能或無法方便地斷開感測電壓的設備的測試。

#### 5.7.4 Synchronization control function test for equipment with no synchronizing disable capability (variation 3)

> 此測試的目的是展示在開放的並聯設備上，EUT在允許封閉並聯裝置之前，在電壓、頻率和相角差的允許範圍內，與區域EPS進行同步。此程序適用於具備自動同步功能的設備，當有參考電壓源時可以自動同步，在連接到區域EPS之前保持同步，並且不包括禁用或斷開同步功能的手段。

操作步驟如下：
**a)** 根據製造商的建議和規格安裝和調整EUT。
**b)** 將測試設備連接以監控並聯裝置的關閉命令，EUT輸出與交流測試源之間的相位關係，源之間的頻率差異，電壓差異以及相位角。
**c)** 將交流測試源設定為運行在名義電壓和頻率下。記錄相關的設置。
**d)** 將交流測試源與EUT斷開連接。
**e)** 啟用所有監測設備。重新應用交流測試源，並在並聯操作期間記錄所有所需的參數（例如，電壓、頻率和相位角差異）。
**f)** 將此測試程序重複執行兩次，總共進行三次測試。

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### 5.8.1 Protection from electromagnetic interference EMI test

> EUT的互連設備應按照IEEE Std C37.90.2或IEC 61000-4-3的要求進行測試，使用強度為20 Vrms/m的信號進行調制前的測試。載波信號在調制為1 kHz信號後應達到至少35 V/m的最大rms場強。
>
>在進行EMI暴露之前，應進行三個EUT參數設置或驗證，並記錄下來。在IEEE Std C37.90.2-2004的第6條中描述的測試程序中，EUT應連接進行正常操作，並且應該導出電能，或者應該配置EUT以使其通電，並且輸出電路可以以代表正常運行的方式進行評估。
>
>包括外部控制電路、通訊端口、測量端口或測量端口在內的EUT應按照EUT的安裝說明進行連接。具有外部記錄功能的單元應設置為最快的可用計量頻率。

> EMI的影響不應導致EUT的互連功能發生狀態變化或誤操作。誤操作包括但不限於狀態的暫時或永久凍結，與EPS的斷開連接，或輸出功率變化超過1.5倍的最大可調節量(MRA)。在EMI暴露之前進行的三個參數設置在EMI暴露之後不應發生變化。

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### 5.8.2 Surge withstand performance test
- EPS電力電路和通信電路上的浪湧可能對DER操作產生負面影響。
- 本測試的目的是驗證EUT製造商指定的浪湧耐受保護級別。
- EUT將進行測試，以驗證其浪湧耐受保護級別，並根據製造商定義的以下一種或兩種標準進行測試：IEEE Std C62.41.2 和/或 IEEE Std C37.90.1。
- 如果EUT的指示要求在安裝過程中使用特定的外部浪湧抑制器，則必須安裝指定的浪湧保護器進行測試。

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#### 5.8.2.2 Procedure
製造商應指定IEEE Std C62.41.2 和/或 IEEE Std C37.90.1 所需的測試的位置類別和暴露水平。對於製造商指定的級別，應執行以下測試：

**a)** 在浪湧暴露之前，應進行三次參數設定或驗證，並記錄下來。

**b)** 按照 IEEE Std C37.90.1 的測試程序，測試EUT的外部通信、信號和控制電路。這不包括光通信和僅可由服務人員訪問並僅在現場服務工作期間使用的端口。

**c)** 按照 IEEE Std C62.41.2 和 IEEE Std C62.45 的測試程序，測試EUT的電力電路。

根據 IEEE Std C62.45 的要求，應對EUT進行所有正常操作模式的測試，以確認所選擇的測試級別（從 IEEE Std C62.41.2 中選擇）是否符合耐受浪湧的能力。測試應在EUT以標稱或降低的功率水平運行時進行。或者，可以配置EUT以模擬出口的條件，從而將浪湧應用到在正常操作期間暴露的EUT組件和電路上。額定電壓大於1000 V的設備應根據製造商或系統集成商指定的適用標準進行測試。

**d)** 如果由於浪湧而導致過電流保護裝置打開，則在下一次浪湧迭代之前，應將保護裝置重置或更換。

例外情況：允許經過非用戶或操作者可更換的保險絲的EUT將其繞過，以避免測試中斷。如果無法更換的保險絲打開且無法繞過以繼續測試，則應將其視為不合規的證據。

**e)** 如果由於浪湧而導致EUT離線，則需要將EUT上線並恢復運行，在將其提交給下一次浪湧迭代之前。

例外情況：如果EUT檢測到與浪湧事件直接相關的異常狀態，並隨後進入受保護狀態，則允許EUT需要循環電源或其他由製造商定義的操作來重置EUT並恢復正常運行。如果EUT在循環電源或製造商定義的重置後不能上線並正常運行，則應將結果視為不合規的證據。

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#### 5.8.2.3 Criteria
這些測試的結果應表明，在浪湧事件發生後，EUT的互連功能未失效、未錯誤操作並未提供錯誤信息。

錯誤操作包括但不限於與EPS的斷開連接（在步驟 **d）** 和 **e）** 的例外情況下），以及狀態的暫時或永久凍結。

EUT在浪湧事件發生後允許離線跳閘。如果EUT在浪湧事件後能重新連接並正常運行，並且在過電流保護裝置被替換、重置或執行了步驟 **e）** 的例外情況下的操作之後，則被視為符合要求。

在浪湧暴露之前進行的三次參數設定或驗證不得更改。

錯誤信息包括但不限於顯示信息或圖像的變更、顯示的正常運行中斷、顯示信息的錯誤、正常通信的丟失、通信信息的錯誤，以及狀態的暫時或永久凍結。

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### 5.14 Voltage Regulation

本子條款中的測試驗證了EUT的無功功率能力，並驗證了IEEE Std 1547中描述的各種電壓調節模式的運作。以下是五個電壓調節測試的類別：

恆定功率因數模式
電壓無功功率（volt-var）模式
電壓有功功率（volt-watt）模式
有功功率-無功功率（watt-var或P-Q）模式
恆定無功功率模式

在5.14.3到5.14.10的所有測試中，電壓調節功能旨在改變電網電壓。測試設施應保持適用的電壓在與4.6.1標準中的ac測試源電壓設定值的±1％之間。這可以通過使用具有足夠低阻抗的電壓源，或提供負載來補償EUT的有功和無功功率輸出來實現。ac測試源應符合4.6.1的要求。測量系統應符合4.6.3的要求。

$a_v$ 在這些測試中定義為標準IEEE Std 1547-2018中在**穩態條件**下所要求的電壓最小測量準確度（MRA）的150％。

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製造商應在5.14測試中聲明EUT的以下參數：

- $P_{rated}$ – 輸出功率額定值（W）
- $P’_{rated}$ – 對於可以吸收功率的EUT，輸出功率額定值在吸收功率時（W）
- $S_{rated}$ – 視在功率額定值（VA）
- $V_{in.nom}$ – 對於具有電氣輸入的EUT，名義輸入電壓（V）
- $V_{in.min}$ – 對於具有電氣輸入的EUT，最小輸入電壓（V）
- $V_{in.max}$ – 對於具有電氣輸入的EUT，最大輸入電壓（V）
- $V_N$ – 名義輸出電壓（V）
- $V_L$ – 在連續運行區域中的最小輸出電壓（V）
- $V_H$ – 在連續運行區域中的最大輸出電壓（V）
- $P_min$ – 最小有功功率（W）
- $P’_min$ – 對於可以吸收功率的EUT，吸收功率時的最小有功功率（W）
- $Q_{rated,abs}$ – 最大吸收無功功率（var）
- $Q_{rated,inj}$ – 最小注入無功功率（var）

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EUT根據IEEE Std 1547定義的正常運行性能類別

如適用，來自IEEE Std 1547-2018表41中的實施通信協議
在5.14的每個步驟中，ac測試源電壓應在一個電網周期內被調整到每個新值，並且EUT功率應根據製造商的指示以最大速率進行斜坡。

在5.14的測試過程中，ac測試源電壓保持在IEEE Std 1547-2018中定義的連續運行電壓內。對於5.14的每個步驟，EUT功率應在所需設置的±7.5％內。

無功功率能力（吸收和注入）應在 $V_L$，$V_N$，$V_H$ 的滿額定功率下進行展示。無功功率能力可以在5.14的任何一個測試中進行展示，通過在$V_L$，$V_N$，$V_H$ 的全功率下運行EUT，並在無信號注入時以$Q_{rated,inj}$ 進行展示，並在$V_L$，$V_N$，$V_H$ 的全功率下以$Q_{rated,abs}$進行展示。

為了確認符合IEEE Std 1547的最小無功功率能力，不允許使用信號注入。在發電可以與實際電壓測量分離的情況下，可以在5.14的所有測試中允許使用信號注入。

對於符合正常運行性能類別A的EUT，有功和無功功率要求，$P_{rated}$和$Q_{max}$分別應允許在$V_N$以下的電壓上線性降低，如下方的方程式所示：


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在這些測試中，評估的是開環響應。正在測試的調節功能對電網有影響，並在電網電壓、電網阻抗和EUT之間形成了一個閉環系統。對於堅硬的ac測試電壓源，開環系統響應等同於閉環響應。附錄I解釋了開環響應和閉環響應之間的關係。附錄I還說明了在製造商和測試實驗室之間達成協議的情況下，閉環響應如何用於代替開環響應來評估EUT。

對於存在不平衡的三相電壓的測試，製造商應該聲明EUT是否對單獨的相電壓作出響應，還是對三相有效（rms）值的平均值或正序電壓作出響應。對於對個別相電壓作出響應的EUT，應該評估每個單獨相的響應。對於對三相有效（rms）值的平均值或正序電壓作出響應的EUT，應該評估總的三相無功和有功功率。這將驗證三相EUT是否符合IEEE Std 1547-2018中4.3節的volt-var和volt-watt適用電壓要求。在5.14.3中指定的測試中，不平衡的持續時間應至少保持300秒，以驗證裝置不會根據IEEE Std 1547-2018中的6.4.2.2條款關閉。在5.14.4到5.14.7中指定的所有測試中，不平衡的持續時間應與相應平衡電壓測試的持續時間相同。

對於存在不平衡的三相電壓的測試，附表24中的電壓將在5.14.3到5.14.7小節中使用。在表1和表2中定義的相對中性或相對地面的電壓，如果是適用的電壓，則測試應該使用EUT支持的每個配置的適用電壓進行重複。


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### 5.14.3 Test for Constant Power Factor p.f. mode

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### 5.14.4 Test for Voltage Reactive Power volt.var mode

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### 5.14.5 Test for Voltage Reactive Power volt.var mode vref test

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### 5.14.6 Test for Voltage Reactive Power volt.var mode with an imbalanced grid

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### 5.14.7 Test for Active Power Reactive Power var watt.ar

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### 5.14.8 Test for Constant Reactive Power var mode

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### 5.14.9 Test for Voltage Active Power volt.watt mode

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### 5.14.10 Test for Voltage Active Power volt.watt mode with an imbalanced grid

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### 5.15.2 Test for Frequency Droop frequency.power or frequency.watt capability above nominal frequency

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### 5.15.3 Test for Frequency Droop frequency.power or frequency.watt capability below nominal frequency

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### 5.17.1 Ground Fault Overvoltage Test GFOV

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### 5.17.2 Load Rejection Overvoltage Test LROV

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### 5.18.1 Fault Current Tests for Inverter

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### 5.19 Persistence of DER parameter settings

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