# 7/13 Micro 影像處理模組改善討論
## [待修正項目]

- [ ] 1. ~~ROI編輯優化~~
- ~~ROI測項編輯的"新增"、"複製ROI"按鈕按下後，focus沒有改變，造成誤刪除到編好參數的ROI --> focus需跟著新增複製而改變~~
- ~~砍掉該ROI後，UI上沒有回復該ROI的機會，只能按"確定" --> 新增"取消"按鈕~~
- ~~"區域種類"UI顯示不同步~~
-
- ~~(7/19) "新增"按鈕沒有改變Focus~~
- ~~(7/22) 取消按鈕貌似沒有真的取消先前刪除的步驟~~
- (7/25) 取消按鈕會造成UI上的過濾條件啟/閉異常

- [x] 2. 過濾條件異常
- ~~(6/22) 雜點會造成速度拖慢、記憶體暴漲~~
- ~~嘗試使用Halcon矩陣運算取代for 迴圈作法~~
- ~~(7/13) 篩選條件不能用Max=Min=0去自動bypass，要比照尺寸條件-> chkbox+無上限~~

- :::spoiler 加速方法
- ==目標: 散狀瑕疵，一道演算法篩選時間<100ms==
1. 避掉for(SelectObj+Union)的方法
- 經過篩選邏輯，拿到真正的Region Index後，一次SelectObj撈所有Region

2. 篩選邏輯也用Halcon平行做掉

:::

- [ ] 3. 卡控條件異常
- ~~"瑕疵尺寸無上限"的作法不能直接改寫上限，會造成之前上限的設定被改寫~~
- (7/13) "全部不勾選就不output結果"不符合操作邏輯，應該是設甚麼條件就後篩選甚麼屬性
- (7/19) 邏輯改and

- [ ] 4. 加速項目
- 限定ShapeModel搜索範圍
- 
- var_threshold亮暗邏輯
- 

## [待新增功能]

- [ ] 1. 拿到目前設定的曝光張數 --> Active Index邏輯修正
- 已說明, 待修正 , Add 之後Active Index馬上++
- [ ] 2. VisionControl跳號防呆
- (1)如果做完就可以防呆
- [ ] 3. Add新增的曝光張數，需被曝光最大張數卡控

- [ ] 4. 新增前處理流程 ==細部再討論==
- 為了避免Die內雜點&亮度不均，造成誤判，故需在門檻方法前進行影像前處理。共有==2==項需求：
- 1. 動態產生參考影像並相減，消弭亮度不均
- 2. 濾雜訊
- Recipe調參頁面，需能按鈕顯示==參考影像、相減影像、濾波影像==
- ==詳細參考影像製造方法再討論==

## [問題]
- [X] 以[60_59_0_0]太陽紋瑕疵進行檢出測試
- ~~無法妥善檢出，需新增binary演算法~~
- ~~是否有測試結果?~~
- ~~(7/21) Binary Checkbox要拿掉，變成tab index的啟用方式~~
- ~~(7/21) 用預設參數檢測會跳出異常~~

- [ ] 嘗試進行Mura瑕疵檢出

## [操作流程改善討論]
::: success
1. 演算法加速方案討論
2. Macro多執行緒越跑越慢討論
3. UI討論
:::

## [流程討論細項]
==待[待修正項目]完成後，再進行本章節優化==
:::info
- "檢測項目" 分頁拿到外層，選項改radiobox，要有Default選擇，預設visible false
- "卡控條件"要有預設值，瑕疵尺寸無上限預設開啟
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